NANOscientific
Symposium Korea 2026
20 - 21 August, 2026 | Park Systems HQ, Gwacheon, South Korea
NANOscientific Symposium Korea 2026
NANOscientific Symposium Korea(NSS Korea)는 국내 나노과학 및 나노기술 분야의 전문가들이 한자리에 모여 다양한 응용 기술의 최신 동향과 연구 성과를 공유하는 전문 심포지엄입니다.
특히 올해도 지난해에 이어 Park Systems Korea User Meeting(파크시스템스 국내 유저 미팅)과 동시 개최되어 더욱 풍성한 교류와 네트워킹의 장이 마련될 것으로 기대됩니다. 또한 원자현미경 분야를 넘어 나노기술 응용 및 혁신 분야로 주제를 확대하여 보다 폭넓은 논의와 소통의 기회를 제공할 예정입니다.
특히 올해도 지난해에 이어 Park Systems Korea User Meeting(파크시스템스 국내 유저 미팅)과 동시 개최되어 더욱 풍성한 교류와 네트워킹의 장이 마련될 것으로 기대됩니다. 또한 원자현미경 분야를 넘어 나노기술 응용 및 혁신 분야로 주제를 확대하여 보다 폭넓은 논의와 소통의 기회를 제공할 예정입니다.
DAY 1: 8월 20일(목)
국내 나노과학기술 분야에서 파크시스템스 장비를 활용해 연구를 수행하고 있는 저명한 연사들의 강연과 연구자 간 교류 및 네트워킹 프로그램이 진행됩니다.
DAY2: 8월 21일(금)
파크시스템스의 다양한 나노 계측 및 광학 측정 솔루션을 직접 확인할 수 있는 장비 시연 프로그램을 운영합니다.
■ 프로그램 구성
본 프로그램은 Research AFM, Industrial AFM, Optical Measurement Solutions의 3개 분야, 총 8개 토픽으로 구성됩니다.
각 세션에서는 8개 토픽이 동시에 진행되며, 동일한 내용의 시연 프로그램이 총 3회 반복 운영됩니다.
참석자는 세션별로 관심 있는 토픽 1개를 선택할 수 있으며, 1인당 최대 3개 토픽까지 신청할 수 있습니다.
각 토픽에서는 담당 엔지니어가 대표 시료를 직접 측정하며, 해당 모드의 주요 원리와 측정 방법, 활용 사례를 소개합니다.
■ 참석 대상
DAY 1 심포지엄 참석자에 한하여 신청할 수 있습니다.
정원은 선착순 50명입니다.
■ 주요 토픽
Research AFM
• Lattice Imaging (NX1)
• Electrical Mode: DFRT-PFM (FX40)
• Electrical Mode: HD-KPFM (NX10)
• Mechanical mode: Fast PinPoint (FX200)
• Nano-IR (FX300 IR 또는 FX40 IR)
Industrial AFM
• Automated AFM for In-line Metrology Solutions (NX-Wafer)
Optical Measurement Solutions
• ISE (Imaging Spectroscopic Ellipsometry): Thickness Mapping of Patterned Multi-Layer Samples (EP4)
• DHM (Digital Holographic Microscope): 3D Optical Measurement (Lyncee R1)
※ 각 세션에서는 총 8개의 토픽이 동시에 진행됩니다.
※ 참석자는 세션별로 1개 토픽을 선택할 수 있으며, 총 3개 세션을 통해 최대 3개 토픽에 참여할 수 있습니다.
※ 모든 세션에서는 동일한 내용의 시연 및 교육이 진행되며, 총 3회 반복 운영됩니다.
※ 신청 인원이 적은 토픽은 운영되지 않거나 다른 토픽과 통합될 수 있습니다.
※ 신청 인원이 많은 토픽은 원활한 참여를 위해 동일 토픽을 추가 편성하여 별도 그룹으로 운영할 수 있습니다.
※ 프로그램은 신청 현황 및 운영 여건에 따라 일부 변경될 수 있습니다.
■ 프로그램 구성
본 프로그램은 Research AFM, Industrial AFM, Optical Measurement Solutions의 3개 분야, 총 8개 토픽으로 구성됩니다.
각 세션에서는 8개 토픽이 동시에 진행되며, 동일한 내용의 시연 프로그램이 총 3회 반복 운영됩니다.
참석자는 세션별로 관심 있는 토픽 1개를 선택할 수 있으며, 1인당 최대 3개 토픽까지 신청할 수 있습니다.
각 토픽에서는 담당 엔지니어가 대표 시료를 직접 측정하며, 해당 모드의 주요 원리와 측정 방법, 활용 사례를 소개합니다.
■ 참석 대상
DAY 1 심포지엄 참석자에 한하여 신청할 수 있습니다.
정원은 선착순 50명입니다.
■ 주요 토픽
Research AFM
• Lattice Imaging (NX1)
• Electrical Mode: DFRT-PFM (FX40)
• Electrical Mode: HD-KPFM (NX10)
• Mechanical mode: Fast PinPoint (FX200)
• Nano-IR (FX300 IR 또는 FX40 IR)
Industrial AFM
• Automated AFM for In-line Metrology Solutions (NX-Wafer)
Optical Measurement Solutions
• ISE (Imaging Spectroscopic Ellipsometry): Thickness Mapping of Patterned Multi-Layer Samples (EP4)
• DHM (Digital Holographic Microscope): 3D Optical Measurement (Lyncee R1)
※ 각 세션에서는 총 8개의 토픽이 동시에 진행됩니다.
※ 참석자는 세션별로 1개 토픽을 선택할 수 있으며, 총 3개 세션을 통해 최대 3개 토픽에 참여할 수 있습니다.
※ 모든 세션에서는 동일한 내용의 시연 및 교육이 진행되며, 총 3회 반복 운영됩니다.
※ 신청 인원이 적은 토픽은 운영되지 않거나 다른 토픽과 통합될 수 있습니다.
※ 신청 인원이 많은 토픽은 원활한 참여를 위해 동일 토픽을 추가 편성하여 별도 그룹으로 운영할 수 있습니다.
※ 프로그램은 신청 현황 및 운영 여건에 따라 일부 변경될 수 있습니다.
09:00 - 09:50
등록
09:50 - 10:00
개회 및 환영사
이윤기 본부장
파크시스템스 국내사업부
10:00 - 10:30
기조강연: 반도체 기술의 트랜드와 MI 기술의 방향
이병호 박사
파크시스템스 Senior Fellow (前 SK 하이닉스 Fellow)
10:30 - 10:55
초청발표: AI-driven AFM for rapid exploration of material properties
김윤석 교수
성균관대학교 신소재공학과
10:55 - 11:05
휴식(Coffee Break)
11:05 - 11:30
초청 발표: Switchable Plasmonic Nearfields in Conducting Polymer Nanoantennas Visualized by Photo-induced Force Microscopy
강현구 교수
충북대 물리학과
11:30 - 11:55
초청발표: 유무기 페로브스카이트 태양전지의 첨단 물성 연구와 반도체 소재 국소 화학조성 분석 - PiFM의 활용 연구
김효정 교수
부산대학교 나노반도체 공정ᆞ장비 계약학과
11:55 - 12:20
초청발표: Spectroscopic origin of photo-induced force
장정훈 박사
한국표준과학연구원
12:20 - 12:40
파크시스템스 발표: 2026 Research AFM Portfolio and Development Focus Areas
이윤경 부장
파크시스템스 Research Product Marketing
12:40 - 13:40
점심(Lunch Buffet)
13:40 - 14:05
초청발표: Advanced PKG 제품의 주요 MI Challenge와 기술 개발 방향
전용주 박사
삼성전자 반도체연구소
14:05 - 14:30
초청발표: 반도체 Surface Topography 계측 기술
권광민 박사
SK 하이닉스 기반기술센터 R&D
14:30 - 14:50
파크시스템스 발표: 2026 Industrial AFM Market Overview & Product Updates
조성준 부장
파크시스템스 Industrial Product Marketing
14:50 - 15:00
휴식
15:00 - 15:25
초청발표: Electrofludic Integration of Nano LEDs for Mobile and AR/VR Displays
김재균 교수
한양대학교 반도체디스플레이공학과
15:25 - 15:50
초청발표: Artificial Intelligence in Digital Holographic Imaging: Technical Basis and Biomedical Applications
문인규 교수
DGIST 로봇 및 기계전자공학과
15:50 - 16:10
파크시스템스 발표: Seeing More with Park's Optical Metrology
김성오 팀장
파크시스템스 Optical Application Technology
16:10 - 16:20
휴식
16:20 - 16:40
연구원 발표: AFM applications in 3D semiconductor integration
이진형 연구원
IBS 양자나노과학연구단
16:40 - 17:00
연구원 발표: Unveiling the origin of electrical switching through advanced AFM techniques
이용준 연구원
KAIST 양자에너지소자연구실
17:00 - 17:20
연구원 발표: Probing Nanoscale Light–Matter Interactions in Low-Dimensional Materials Using AFM-Based Near-Field Microscopy and Simulation
한재원 연구원
성균관대 나노물성연구실
17:20 - 17:40
경품 추첨 및 폐회
17:40 - 20:00
만찬
10:00 - 11:00
Session 1 – 장비 시연 프로그램
11:10 - 12:10
Session 2 – 장비 시연 프로그램
12:10 - 13:10
점심식사 및 휴식
13:30 - 14:30
Session 3 – 장비 시연 프로그램
Location
Park Systems HQ, Gwacheon, South Korea
Organizer
